日本理学Rigaku x射线粉末衍射仪 ULTIMA IV为您提供所需的分辨率，一维高速探测器、6位样品自动转换器、旋转样品台、气密样品台等，实时角度校正功能，大幅提高角度精度、强度等基本性能，得到高精度测试数据，可以选配单色器，用于扣除荧光X射线背底，提高信噪比进行高质量数据测试。
在X射线开启状态下无法打开样品室操作窗。在测试中如果指令样品室解锁，则快门关闭同时停止X射线，应用于石棉、游离氧化钙等定量分析、工业原材料品质管理、大学、科研等等，入射和发散狭缝可选。
技术参数
1、多用途薄膜测试组件；
2、X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC；
3、分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等；
4、X射线发生器功率为3KW；
5、测角仪为水平测角仪；
6、测角仪小步进为1/10000度；
7、In-Plane测试组件；
8、高速探测器D/teX-Ultra；
9、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）；
10、小角散射测试组件；
11、微区测试组件；
12、测角仪配程序式可变狭缝；
13、高反射效率的石墨单色器；
14、测角仪半径:185mm,285mm(选购),280mm(TTR)；
15、X射线防护罩:带故障保险机构的开闭式防护罩；
16、X射线发生器:3kW。
主要特点：
1、高速X-射线检测器，检测器的速度和强度大幅提高；
2、全新的软件设计理念，丰富的内容, 简明流畅；
3、光路系统自动调整校准：配备X-射线光路自动调整校准模式；
4、丰富的功能附件保障了仪器升级的可能；
5、水平测角仪：特别适合粉末类样品，尤其是易于产生取向效应的样品；
6、全自动狭缝调整装置；
7、*的光学系统，可实现交叉光路和平行光路的自动程序互换。
日本理学Rigaku x射线粉末衍射仪 ULTIMA IV采用联锁装置，X射线衍射仪器的旗舰产品，聚焦法光学系统和平行光束法光学系统可 轻松切换，不需要重新设置,水平测角仪,操作方便,可自由 组合各种附件,适合多种样品的各种测试，可以进行材料的物相鉴定及定量分析以及研究材料原子尺度结构*、起决定性作用的设备，应力、织构、取向度和结晶度的测定；薄膜物相及物性分析等。
